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非觸式微區形貌測試係統OSP370/470

簡要描述:非觸式微區形貌測試係統OSP370/470
OSP370模塊可快速地對非觸表麵進行高精度測量。在不接觸樣品表麵的情況下,它可以在10mm的高度範圍內(nei) 提供小於(yu) 1微米高度分辨率的3D表麵特寫(xie) 影像。

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  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2023-12-28
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詳細介紹

非觸式微區形貌測試係統OSP370/470

使用非接觸式激光位移傳(chuan) 感器,OSP370模塊可快速地對非觸表麵進行高精度測量。在不接觸樣品表麵的情況下,它可以在10mm的高度範圍內(nei) 提供小於(yu) 1微米高度分辨率的3D表麵特寫(xie) 影像。

非觸式微區形貌測試係統OSP370/470

各種可選配件,包括各種可選探針,可選池體(ti) (Environmental TriCellTM, μTriCellTM,Shallow μTriCellTM),長工作距離光學視頻顯微

(VCAM2)3D表麵陰影渲染軟件(3DlsoPlotTM)。能配置到一個(ge) 特定的應用程序並升級,使M370*靈活,同時保持頂端的性能。

 

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