美國xigo濕式比表麵分析儀

公司介紹

XIGO NANOTOOLS公司是2004年成立於(yu) 美國的專(zhuan) 業(ye) 納米顆粒分析儀(yi) 器公司，為(wei) 納米材料產(chan) 業(ye) 提供新的創新的分析工具，為(wei) 粒子的分散性，浸潤性提供的解決(jue) 方案。

產(chan) 品介紹

美國xigo濕式比表麵分析儀(yi) Acorn Area 專(zhuan) 門為(wei) 測量納米顆粒在溶劑中的濕式比表麵積而設計。與(yu) 傳(chuan) 統的比表麵積測量技術相比，核磁共振法（NMR）具有很多的優(you) 點。整個(ge) 測量過程從(cong) 開始到結束僅(jin) 需5分鍾，並且樣品無需稀釋，幹燥以及其他任何樣品前處理。Acorn Aera可以為(wei) 您節約 的實驗時間。

美國xigo濕式比表麵分析儀(yi) Acorn Area 是可以用筆記本電腦或掌上電腦操作的粒子表麵積分析儀(yi) 。這種輕巧便攜的液滴尺寸分析儀(yi) 設計用於(yu) 研發或QC實驗室，並測量分散在任何類型液體(ti) 中的顆粒或液滴的比表麵積。

產(chan) 品優(you) 勢

1) 無需稀釋，沒有前處理煩惱

2) 填樣後直接測試，久不超過5分鍾

3) 直觀的弛豫時間值，數值量化的分析

4) 操作簡單，合適研究者、操作者使用

5) 顯式下的比表麵積的計算

產(chan) 品技術

美國xigo濕式比表麵分析儀(yi) Acorn Area 使用NMR(13MHz)核磁共振技術，來掌握懸浮態液體(ti) (suspension)的「顆粒」與(yu) 「溶劑」之間的表麵化學、親(qin) 和性、潤濕性、濕式下比表麵積(非幹粉顆粒)，為(wei) 一劃時代的分析儀(yi) 器，可直接於(yu) 濃稠狀態下測試，不需幹燥或真空等前置處理；幫助研究者在品管和改善、開發時間的縮短、工藝配方篩選…等。

技術參數

型號：Acorn Area 

測量範圍：0.1m2/g ~ 2500m2/g 

典型精度：0.01 ~ 0.03 

度：±0.02 

連接：USB 連接計算機/ 筆記本

電源：100v ~ 220v，3A，50/60 Hz 

尺寸：長47 公分、寬26 公分、高19 公分

重量：7 公斤

選配：XiGo170 溫控配件(15℃ ~ 40℃ ) 

配件：原廠標樣、操控軟件

產(chan) 品功能

1) T1 弛豫時間測試、濕式比表麵積計算

2) T2 弛豫時間測試、濕式比表麵積計算

3) T2 弛豫時間隨時間測試

產(chan) 品應用

納米粒子表麵的化學狀態,濃稠狀漿料和研磨液 (CMP) 的開發及品管碳黑、無機/有機顏料的分散, 電池, 太陽能板, 等的碳黑, 納米碳管和漿料的分散, 粒子表麵的化學和物理狀態、不同批次間的質量差異導致的API濕潤性、親(qin) 和性及吸水性的差異 等