碳黑粒子表麵特征分析儀

公司介紹

XIGO NANOTOOLS是2004年成立於(yu) 美國的專(zhuan) 業(ye) 納米顆粒分析儀(yi) 器公司，為(wei) 納米材料產(chan) 業(ye) 提供新的創新的分析工具，為(wei) 粒子的分散性，浸潤性提供的解決(jue) 方案。XIGO粒子表麵表征分析儀(yi) /脈衝(chong) 核磁共振法分析儀(yi) Acorn Area是一款粒子界麵表征評價(jia) 裝置，是一款設計的新產(chan) 品，可以對懸浮液狀，乳液中小至納米尺寸的顆粒的分散性的測試及對顆粒在濕式狀態的比表麵積測量，基於(yu) 核磁共振(NMR)原理，與(yu) 傳(chuan) 統的比表麵積測量技術相比，具有多項*的優(you) 勢。與(yu) 各種傳(chuan) 統比表麵積測量技術不同，Acron粒子接口特性評價(jia) 裝置可以直接對濃懸浮液樣品進行直接地且地測量。整個(ge) 過程中無需對樣品進行稀釋或幹燥等前處理。從(cong) 開始到結束隻需要5分鍾時間。由於(yu) 軟件可以自動設定所要優(you) 化的測量參數，操作者幾乎不經培訓即可操作。自從(cong) 2007年XIGO NANOTOOLS將分析儀(yi) Acorn Area推進中國市場後，為(wei) 中國區廣大用戶所接受，是用戶可信賴的分析研究儀(yi) 器。

產(chan) 品簡介

碳黑粒子表麵特征分析儀(yi) 是一款粒子界麵表征評價(jia) 裝置，是一款設計的新產(chan) 品，可以對懸浮液狀，乳液中小至納米尺寸的顆粒的分散性的測試及對顆粒在濕式狀態的比表麵積測量，基於(yu) 核磁共振(NMR)原理，與(yu) 傳(chuan) 統的比表麵積測量技術相比，具有多項*的優(you) 勢。與(yu) 各種傳(chuan) 統比表麵積測量技術不同，Acron粒子接口特性評價(jia) 裝置可以直接對濃懸浮液樣品進行直接地且地測量。整個(ge) 過程中無需對樣品進行稀釋或幹燥等前處理。從(cong) 開始到結束隻需要5分鍾時間。由於(yu) 軟件可以自動設定所要優(you) 化的測量參數，操作者幾乎不經培訓即可操作。

工作原理

碳黑粒子表麵特征分析儀(yi) 是基於(yu) 核磁共振原理，當磁場改變時，與(yu) 顆粒緊密接觸的溶劑分子比遊離的溶劑分子，或者附著在界麵上的液體(ti) 分子與(yu) 內(nei) 部液體(ti) 分子的行為(wei) 存在很大差異。界麵上的液體(ti) 分子呈現受嚴(yan) 重約束的運動狀態，而內(nei) 部自由液體(ti) 卻是可以隨意運動的。在顆粒表麵液體(ti) 的核磁共振弛豫時間遠小於(yu) 液體(ti) 內(nei) 部的弛豫時間，其差別可以達到幾個(ge) 數量級。懸浮液中顆粒的弛豫時間是兩(liang) 個(ge) 弛豫時間的平均值；分別是對顆粒表麵液體(ti) 與(yu) 自由液體(ti) 相對總量加權得到的的弛豫時間，從(cong) 而可以直接推導出顆粒的總比表麵積。

產(chan) 品功能

• 懸浮液體係顆粒比表麵積
• 粒子分散性、穩定性
• 顆粒與介質之間親和性
• 粉體質量控製、分散工藝研究

​產(chan) 品優(you) 勢

• 懸浮乳液狀態下直接測量
• 樣品無需稀釋
• 樣品無需預處理
• 分鍾即可以得到測量結果
• 自動化程度高，簡單易用
• 體積小，輕便易攜帶

​技術規格

• 測量範圍：0.1 ~ 2500m2/g 
• 典型精度：1 ~ 3%
• 度：±2%
• 脈衝持續時間範圍：0-20μs
• 變送器增益：0-50db
• 變送器相位調節範圍：0-180°
• 步長：0.1μs
• 每次試驗掃描次數：1000次
• 功率：100W
• 連接：USB 連接計算機/ 筆記本
• 電源：100v ~ 220v，3A，50/60 Hz 
• 尺寸：長47 公分、寬26 公分、高19 公分
• 重量：7 公斤
• 選配：XiGo170 溫控配件(15℃ ~ 40℃ ) 
• 配件：原廠標樣、操控軟件

 產(chan) 品應用

1）製陶術：濕式製程、加工工藝改善, 分散性的質控和研發

2）納米科技：納米粒子表麵的化學狀態, 如: 吸附和脫附作用, 比表麵積的變化等

3）電子材料：濃稠狀漿料和研磨液 (CMP) 的開發及品管

4）墨水：碳黑、顏料分散, 適研磨條件, 表麵親(qin) 和性及化學和物理狀態

5）能源：電池, 太陽能板等的碳黑, 納米碳管和漿料的分散, 粒子表麵的化學和物理狀態

6）製藥：API濕潤性、親(qin) 和性及吸水性的差異

7）其他: 全部的濃稠分散懸濁液體(ti) , 納米纖維, 納米碳等