919SZ納米粒度及Zeta電位分析儀

919SZ型納米粒度及Zeta電位分析儀(yi) 測試原理

測量粒度分布原理—動態光散射(DLS)法原理基於(yu) 顆粒的布朗運動，當激光照射到分散於(yu) 液體(ti) 介質中的微小顆粒時，由於(yu) 布朗運動引起散射光的頻率偏移，導致散射光信號隨時間發生動態變化，該變化的大小與(yu) 顆粒的布朗運動速度有關(guan) ，而顆粒的布朗運動速度又取決(jue) 於(yu) 顆粒粒徑的大小，顆粒大布朗運動速度低，反之顆粒小布朗運動速度高，通過相關(guan) 運算得到相關(guan) 函數，獲得顆粒粒徑信息。

測量Zeta電位原理——電泳光散射（ELS）法原理帶電顆粒在電場力作用下向電極反方向做電泳運動，單位電場強度下的電泳速度定義(yi) 為(wei) 電泳遷移率。顆粒在電泳遷移時，會(hui) 帶著緊密吸附層和部分擴散層一起移動，與(yu) 液體(ti) 之間形成滑動麵，滑動麵與(yu) 液體(ti) 內(nei) 部的電位差即為(wei) zeta電位。Zeta電位與(yu) 電泳遷移率的關(guan) 係遵循 Henry方程，通過測量顆粒在電場中的電泳遷移率就能得出顆粒的zeta電位。

919SZ型納米粒度及Zeta電位分析儀(yi) 應用領域

◆ 納米顆粒的合成和功能研究◆ 藥物輸送係統優(you) 化◆ 製造過程中的質量控製◆ 電泳物理學的基礎研究◆ 化妝品和工業(ye) 乳液穩定性研究◆ 納米顆粒製備和合成工藝優(you) 化◆ 先進的膠體(ti) 穩定性分析和優(you) 化◆ 聚合物的表征