納米粒度和Zeta電位分析儀測試範圍使用領域研究機製

　　

　　可測定顆粒在高濃度溶液中的zeta電位

　　

　　可測定固體zeta電位

　　

　　寬粒徑範圍(0.6nm~10μm)，寬濃度範圍(粒徑測試：0.00001%~40%，zeta電位測試：0.001%~40%)

　　

　　可測量稀釋或濃縮的懸浮液

　　

　　用戶友好的軟件

　　

　　多種樣品池選擇

　　

　　可選擇一次性樣品池

　　

　　結合線性相關器和對數相關器相結合的技術對各種樣品進行表征

　　

　　可選擇自動滴定裝置控製懸浮液PH值

　　

　　納米粒度和Zeta電位分析儀使用領域研究機製：

　　

　　半導體

　　

　　研究半導體晶體表麵殘留雜質與磨蝕劑、添加劑和晶片表麵之間的相互影響的淨化機製。

　　

　　醫藥和食品行業

　　

　　乳劑的分散和凝聚的模擬控製研究（如食品、香水、藥品和化妝品），蛋白質功能研究，核糖體分散和凝聚控製研究，表麵活性劑功能研究（微囊）。

　　

　　陶瓷和顏料工業

　　

　　表麵重整控製研究、分散和凝聚陶瓷（矽土、氧化鋁、二氧化鈦等）和無機溶膠的研究，顏料的分散和凝聚的控製研究，浮礦收集器的吸附研究。

　　

　　聚合物和化工領域

　　

　　乳劑(塗料和粘合劑)的分散和凝聚控製研究，乳膠表麵重整控製（藥品和工業用途）。電解聚合物（聚苯乙烯磺酸鈉、多羧酸等）功能研究，控製造紙和生產紙漿過程研究，紙漿添加劑研究。