光散射納米粒度儀(yi) THETIS™將三種測量類型組合到了一台精致的小型儀(yi) 器中，包括動態光散射（DLS，粒度）、去偏振動態光散射 （DDLS，粒形），具有連續多角度功能的靜態光散射（SLS，構象）THETIS™繼承 Vasco Kin™ 的特點，集成了其特別的時間 分辨技術，用於(yu) 高分辨率實時測量。

高分辨率納米粒度和Zeta電位分析儀(yi) 是基於(yu) 動態光散射（DLS）和激光多普勒電泳（LDE）技術，提供高分辨率，和快速的粒度和zeta電位測試和遠程原位測試。

MAGELLAN痕量納米顆粒分析儀(yi) 是一種基於(yu) 激光誘導擊穿檢測（LIBD）技術的測量水中納米粒子痕量（粒徑分布和濃度）的*儀(yi) 器。用於(yu) 水中納米顆粒的痕量表征，靈敏度高於(yu) 傳(chuan) 統的動態光散射技術一萬(wan) 倍，顆粒濃度測定低至 ng/L 的範圍，可對 10nm 到 1000nm 之間的顆粒進行計數，為(wei) 水處理在線監測、超純水監測、濾膜效率及完整性監測以及過濾工藝.

法國Cordouan 生產(chan) 的Vasco kinkaiyun官方网站体育用於(yu) 複雜介質中納米顆粒的粒度表征，其性能遠優(you) 於(yu) 目前市麵上流行的動態光散射法納米粒度儀(yi) 。經過短短四年的發展，Cordouan Technologies 構建的表征納米和納米材料的創新解決(jue) 方案已經成為(wei) N3 世界（納米顆粒、納米材料、納米技術）的參考標準，用於(yu) 粒度測定