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高分辨率納米粒度和Zeta電位分析儀(yi) 是基於(yu) 動態光散射(DLS)和激光多普勒電泳(LDE)技術,提供高分辨率,和快速的粒度和zeta電位測試和遠程原位測試。
法國Cordouan 生產(chan) 的Vasco kinkaiyun官方网站体育用於(yu) 複雜介質中納米顆粒的粒度表征,其性能遠優(you) 於(yu) 目前市麵上流行的動態光散射法納米粒度儀(yi) 。經過短短四年的發展,Cordouan Technologies 構建的表征納米和納米材料的創新解決(jue) 方案已經成為(wei) N3 世界(納米顆粒、納米材料、納米技術)的參考標準,用於(yu) 粒度測定
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