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固體表麵電位儀動態技術分析

更新時間:2018-07-30      點擊次數:1949
   固體表麵電位儀動態技術分析
  
  儀DelsaNanoC/SS是目前惟一的應用電泳光散射及動態光散射原理,同時提供顆粒Zeta電位分布、固體及薄膜液-固表麵Zeta電位分布和納米粒度分布的分析儀。DelsaNnaoC/SS通過特別設計的固體平板樣品池,有效地為固體材料、纖維材料、薄膜材料等提供ZETA電位分析。為廣大的新材料研究、生產提供的、多用途的分析工具。
  
  使用動態(流動氣體)分析技術,可完成化學吸附(分散度、活性金屬麵積、晶粒尺寸、表麵酸性和脈衝化學吸附)和物理吸附(單點BET表麵積,Langmuir表麵積,總
  
  多功能自動化程序升溫化學吸附儀
  
  多功能自動化程序升溫化學吸附儀[2]圖冊
  
  孔體積)。具有更高的精度、測量速度快、可適用多種實驗等優勢。
  
  固體表麵電位儀針對各種形狀的固體
  
  各種不同的測量池適用於天然的和人造的纖維和織物、顆粒樣品、粗顆粒和平板樣品。
  
  突破極限-流動奧妙
  
  快速測量:
  
  Zeta電位測量少於2分鍾
  
  表麵Zeta電位直接分析:
  
  適用於實際樣品,無需使用示蹤顆粒
  
  

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