超聲學粒度測量原理及其工藝實現

    對於(yu) 很多應用領域來說，了解粉體(ti) 一次顆粒的粒徑（初級粒徑）是非常重要的。陶瓷顆粒的工藝過程就是一個(ge) 實例，因為(wei) 陶瓷生坯的孔隙結構、密度及燒結行為(wei) 與(yu) 其原料（主要為(wei) 氧化鋁）的粒度分布直接相關(guan) 。在建築行業(ye) 中，固化過程和水泥的加工性能都與(yu) 這個(ge) 參數有關(guan) 。另一個(ge) 是食品行業(ye) ，比如說巧克力的質量與(yu) 巧克力粉的粒徑密切相關(guan) 。了解分散體(ti) 係的實際粒徑，或說分散係的狀態，對分散係的質量而言，通常比了解初級粒徑還要重要得多：分散體(ti) 係的狀態決(jue) 定了工藝性能、貯存穩定性以及終產(chan) 品的質量等等。因為(wei) 現有的光學方法隻能用於(yu) 高度稀釋的體(ti) 係，如激光衍射法，卻不能提供這一功能。在實際應用中，分散體(ti) 係的濃度一般遠高於(yu) 1%，而稀釋會(hui) 改變體(ti) 係的特性。

    因為(wei) 這個(ge) 原因，超聲技術越來越受到推崇。由於(yu) 物理特性與(yu) 光波不同，超聲波能夠分析體(ti) 積分數60%以內(nei) 的分散體(ti) 係，在許多的應用如功能性架構、矽膠、納米顆粒（粒徑5-100nm）中起著重要作用。現代的超聲譜儀(yi) 能夠在很大的粒徑和濃度範圍內(nei) 表征納米顆粒。

    本文討論超聲譜儀(yi) DT-100的工作狀態。在闡述測量原理後，還會(hui) 介紹一些聲譜的膠體(ti) 化學和物理上的基本原理。