通過動態光散射測量深色和高濃分散體係的粒度

Vasco納米粒度分析儀(yi) 一種基於(yu) 動態光散射（DLS）原理，可用於(yu) 深色和高濃分散體(ti) 係納米粒度測量的創新設備。傳(chuan) 統的DLS技術是表征納米顆粒粒度的有力手段。然而，由於(yu) 激光束被樣品吸收並能引起幹涉效應，在深色介質中變得無能為(wei) 力。在高濃縮樣品的情況下，多重散射的現象也會(hui) 使測量產(chan) 生偏差。為(wei) 了解決(jue) 這些問題，本文提出了一種新穎的光學設計結構，結合了背散射檢測技術和控製樣品厚度的功能。通過對乳膠分散體(ti) 係的測試結果，論述了這些改進的益處。創新的算法實現了DLS的粒度分布的測定。