楊正紅總經理成功當選全國專業標準化技術委員會委員

    2018年1月19日，全國顆粒表征與(yu) 分檢及篩網標準化技術委員會(hui) 顆粒分技術委員會(hui) 換屆大會(hui) 暨2017年度工作會(hui) 議在北京國家納米科學中心勝利召開，kaiyun官网總楊正紅應邀出席會(hui) 議並成功當選第二屆全國專(zhuan) 業(ye) 標準化技術委員會(hui) 委員。

    會(hui) 議由主任委員陳運法主持。參加會(hui) 議的有國家標準化管理委員會(hui) 工業(ye) 標準一部裝備處王宇處長、董豔、以及全體(ti) 委員及代表共33人。

    本次會(hui) 議主要討論並通過了換屆事宜，分委會(hui) 章程和工作細則，上一屆委員會(hui) 工作總結，秘書(shu) 處工作報告以及四項新立項項目工作。

    會(hui) 議首先宣讀了第二屆34名委員和3名顧問名單。其中，陳運法任主任委員，李兆軍(jun) 任委員兼秘書(shu) 長。楊正紅總成功入選第二屆全國專(zhuan) 業(ye) 標準化技術委員會(hui) 委員。

    楊正紅總是顆粒和粉體(ti) 物理性質表征領域的專(zhuan) 家。自1997年進入顆粒分析領域後，對各種粒度表征方法都進行過探索，尤其對激光粒度分析技術、zeta電位分析技術和氣體(ti) 吸附法比表麵和孔徑分析技術頗有造詣，深得同業(ye) 者好評。自2012年，尤其創立kaiyun官网以來，楊正紅總於(yu) 新一代圖像法和超聲法粒度和zeta電位分析技術的應用和推廣。目前，開始關(guan) 注圖像法粒度分析技術的在線應用和中空纖維及膜的zeta電位測定技術。

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