kaiyun开云平台app攜多款新產品亮相IPB2018

第十六屆中國粉體(ti) 加工/散料輸送展覽會(hui) （IPB2018）作為(wei) 粉體(ti) 行業(ye) 的重要的年度盛會(hui) 於(yu) 2018年10月17日在上海世博展覽館盛大開幕。儀(yi) 思奇科技攜多款新產(chan) 品亮相此次展會(hui) 。此次參展的主要產(chan) 品主要有新一代高分辨率圖像法粒度粒形分析儀(yi) IPAC2；圖像法顆粒跟蹤zeta電位分析儀(yi) ZetaCompact^®；固體(ti) 表麵電位儀(yi) ZetaCAD^®和超聲法粒度和zeta電位分析儀(yi) 。

儀(yi) 思奇科技一直孜孜以求於(yu) 把的顆粒分析技術引入國內(nei) 市場，讓新老客戶了解到的圖像粒度分析技術水平和豐(feng) 富的多種zeta電位解決(jue) 方案。

在此次展會(hui) 上，儀(yi) 思奇科技展出了分辨率可達到0.17微米/像素的圖像法粒度粒形分析儀(yi) IPAC2。IPAC2圖像法粒度和粒形分析儀(yi) 屬於(yu) 濕法動態分析儀(yi) 器，其分析範圍粒度範圍：0.3~1000μm，具有1200萬(wan) 像素CMOS成像係統，可配置自動進樣係統。IPAC2可以確定蛋白質藥物中汙染物來源及聚集體(ti) 個(ge) 數,符合藥典要求；可對蛋白質中氣泡、矽油、異物等進行分類和數量統計，並可用於(yu) 拋光液中的顆粒計數。

OCCHIO公司的ghost技術，可以對透明顆粒進行成像；強大的軟件係統，使得IPAC2具有跟蹤和計數功能。IPAC2是解決(jue) 蛋白質、乳液等樣品粒度粒形分析的利器。

在此次展會(hui) 上同時展出了圖像法zeta電位儀(yi) zetaCompact^®和固體(ti) 表麵zeta電位儀(yi) ZetaCAD^®。

圖像法zeta電位分析是用於(yu) 光散射電泳法和電聲法zeta電位分析校準的基準儀(yi) 器，可用於(yu) 解決(jue) 測量從(cong) 20nm到50μm顆粒的電泳遷移率所遇到的所有問題，並計算膠體(ti) 懸浮液的zeta電位。*，密度高或粒徑大的顆粒會(hui) 沉積在測量室底部。圖像法zeta電位儀(yi) zetaCompact^® 采取具有角度尋徑分辨率的高精度圖像分析方案，在垂直平麵內(nei) 測量懸濁液中顆粒的電泳遷移率分布，計算zeta值。並且能給出每個(ge) 顆粒的zeta值，給出真正的zeta電位分布圖（如下圖），特別適合於(yu) 乳液、纖維、混合材料、礦漿等樣品的測定和分離條件確定。

     固體(ti) 表麵電位分析儀(yi) ZetaCAD^®是基於(yu) 流動電勢和流動電流測量法，從(cong) 而研究宏觀固體(ti) 表麵 Zeta電位。ZetaCAD^®適用於(yu) 50μm以上的大顆粒、纖維和膜類等平坦的表麵，或在一個(ge) 壓力梯度下電解質可以透過的曲麵膜或中空纖維樣品，包括聚合物、紡織、陶瓷、玻璃等，對不同形狀和尺寸的固體(ti) 及粉末材料均適用。固體(ti) 表麵電位分析儀(yi) 研究材料的表麵電荷，了解材料表麵上的電荷狀況，幫助科研人員在化學與(yu) 材料科學領域內(nei) 改善和調整表麵特性。

在IPB同期舉(ju) 行的2018第三屆上海醫藥粉體(ti) 製備技術交流會(hui) ，邀請了國內(nei) 藥用粉體(ti) 顆粒領域的專(zhuan) 家開展高峰論壇，儀(yi) 思奇科技總經理楊正紅先生應邀做《靜態圖像法粒度和形貌分析技術在藥品質量控製中的應用》主題報告。通過此次論壇，儀(yi) 器廠商交流學習(xi) ，廣大用戶互助探討，進一步加深了對藥用粉體(ti) 顆粒領域顆粒表征技術的理解。

儀(yi) 思奇科技一直秉承創新儀(yi) 器科技，支撐材料研究的理念；推廣的儀(yi) 器，提供的服務為(wei) 宗旨。