全國顆粒表征與分檢及篩網標委會換屆暨六屆一次會議圓滿落幕

    全國顆粒表征與(yu) 分檢及篩網標準化技術委員會(hui) （以下簡稱標委會(hui) ）換屆暨六屆一次會(hui) 議於(yu) 2019年5月7-8日在江蘇常州順利召開。出席本次會(hui) 議代表共60名，其中38為(wei) 委員、12為(wei) 受委員委托代表，占全體(ti) 51名委員的98%。會(hui) 議分別由主任委員王世剛，副主任委員白潛洋、李兆軍(jun) 和張福根主持。楊正紅總經理代表kaiyun官网參加了本次會(hui) 議，並作為(wei) 標委會(hui) 委員全程參與(yu) 標準製修訂工作。

    會(hui) 議聽取了所有在研標準進展情況的匯報，同意終止《顆粒沃德爾（Wadell）球形度的測量方法》（20141992-T-469）標準計劃；同意《分散體(ti) 穩定性表征的指導原則》（20181022-T-469）標準計劃由12個(ge) 月延至24個(ge) 月的申請；其他16項標準應按時完成標準修訂工作。

    會(hui) 議審查了《粒度分析 圖像分析法 第1部分：靜態圖像分析法》等五項國家標準立項建議，其中《《粒度分析 圖像分析法 第1部分：靜態圖像分析法》、《壓汞法和氣體(ti) 吸附法測定固體(ti) 材料孔徑分布和孔隙度 第1部分：壓汞法》、《zeta電位測量良好操作指南》和《塑料粒度的試驗方法 篩分法》等四項通過審查，建議立項；建議《動態光散射操作指導》采標提案跟進相應標準製修訂共作，待標準發布實施後再進行立項申請。

    會(hui) 議要求全體(ti) 委員按照規定和標委會(hui) 章程積極努力工作，履行委員的責任和義(yi) 務，發揮委員的作用，凝心聚力、同心同德，共同為(wei) 我國的顆粒表征、分檢及篩網的標準化工作做出貢獻。