歡迎訪問kaiyun官网網站

當前位置:首頁  >  Kaiyun电子体育  >  了解預測和量化納米粒度和Zeta電位分析儀(yi) 的穩定性

了解預測和量化納米粒度和Zeta電位分析儀的穩定性

更新時間:2017-07-11      點擊次數:1569
   了解預測和量化的穩定性
  
  點測量掃描,用於測試等電點、配方穩定性和膠體係統的均勻性,獲取體係真正的Zeta電位信息。了解、預測和量化產品的穩定性。
  
  通過單次測試即可在整個動態範圍內獲取更多的樣品信息,節省時間。
  
  深入研究獲取的數據,可提高產率,優化流程,開發潛能。
  
  更高的靈敏度,提高了原始數據的質量和結果的性。
  
  采用雪崩光電二極管(APD),可提供高靈敏度的檢測,可對少量的和極稀的樣品進行檢測,幫助用戶進行有效的小體積分析。
  
  可生成用戶可定製的3D圖形以監測樣品變化、進行樣品批次對比及觀察pH值對樣品的影響,便於使用獲得數據改善工藝流程。
  
  保護數據的完整性、確保重複性和度,獲得高可信度的結果
  
  多點電泳遷移率檢測,消除EOF效應。
  
  智能SOP(標準操作程序)設計,預置液體分散性質。可有效的減少方法開發/調整的耗時。
  
  寬廣的溫度控製範圍,可有效的蛋白質和生物樣品的完整性及生物活性。特殊設計的分析樣品池配備平行電極,可消除對蛋白質以及生物材料的熱損傷。

地址:北京市昌平區西三旗建材城西路新龍大廈A座2010室

郵箱:cici.ding@insearch-tech.com

傳(chuan) 真:86-10-81706682

  • 微信客服

  • 微信公眾(zhong) 號

版權所有Copyright © 2025 kaiyun官网 All Right Reserved         sitemap.xml     技術支持: