粒度粒形分析儀（高溫物料）

簡要描述：FC200TC （高溫物料）粒度粒形分析儀(yi) 粒度粒形分析儀(yi) 將圖像這一直觀的觀察測量方法與(yu) 統計學相結合的圖像法顆粒粒度粒形表征不僅(jin) 能夠得到個(ge) 別顆粒的直觀信息，還能夠得到樣品的粒徑和形貌的統計信息，從(cong) 而幫助使用者*地表征樣品

產品型號：FC200TC
廠商性質：代理商
更新時間：2023-12-28
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FC200TC（高溫物料）粒度粒形分析儀(yi)

FC200係列是應用於(yu) 懸浮液和乳液的全電腦控製粒度粒形分析儀(yi) 。配置包括連接顯微鏡頭的數字工業(ye) 相機和背光係統。通過在流動池中的分析, 用戶可以進行粒徑測量，粒形分析及計數（顆粒數/毫升）。為(wei) 了得到的顆粒計數，儀(yi) 器內(nei) 置特殊的泵係統，實現*的流速控製。未經稀釋的乳液經過位於(yu) 成像裝置和光源之間的固定厚度的玻璃樣品池單元。通過在流動池中的分析, 用戶可以測定粒徑及其分布，粒形及其分布及顆粒計數。粒徑測量範圍0.2μm-3mm。粒徑和粒形參數定義(yi) 近50個(ge) 。

FC200TC（高溫物料）粒度粒形分析儀(yi)

Occhio FC200S＋HR圖像法粒度分析儀(yi) ( 濕法) ，采用1000 萬(wan) 像素的照相機，拍攝分散在液體(ti) 中的顆粒或液滴的高分辨率照片，可拍攝到粒徑小於(yu) 200 nm 的顆粒，可以循環分散測定，進行粒度分布和粒形分布的分析。FC200M配置標準計量隔膜泵。其它攪拌分散或超聲分散裝置可選; FC200TC是針對高溫下（控溫可達140°C)物料的粒度粒形分析; 對於(yu) 放射性顆粒材料，有特殊粒度粒形分析儀(yi) (FC 200 BAG)供您選擇。

FC200TC（高溫物料）粒度粒形分析儀(yi)

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