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Occhio Zephyr係列粒徑及形態分析儀(yi) 將圖像這一直觀的觀察測量方法與(yu) 統計學相結合的圖像法顆粒粒度粒形表征不僅(jin) 能夠得到個(ge) 別顆粒的直觀信息，還能夠得到 樣品的粒徑和形貌的統計信息，從(cong) 而幫助使用者表征樣品。
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