歡迎訪問kaiyun官网網站

當前位置:首頁   >  產(chan) 品中心  >  電化學分析儀(yi)   >  阻抗分析儀(yi)   >  微區電化學阻抗測試係統LEIS370/470

微區電化學阻抗測試係統LEIS370/470

簡要描述:微區電化學阻抗測試係統LEIS370/470結合了電化學阻抗EIS技術和微區掃描技術,可以的測試局部微區的阻抗以及相應參數。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2023-12-28
  • 訪  問  量:4917

詳細介紹

微區電化學阻抗測試係統LEIS370/470

微區電化學阻抗測試係統LEIS370/470

應用:

* 薄膜阻抗複雜成像

* 池生長介質直接成像

* 光點化合反應特征化

* 電池

* 傳(chuan) 感器

* 金屬以及合金的鈍化

* 燃料池

* 腐蝕

 

產(chan) 品谘詢

留言框

  • 產品:

  • 您的單位:

  • 您的姓名:

  • 聯係電話:

  • 常用郵箱:

  • 省份:

  • 詳細地址:

  • 補充說明:

  • 驗證碼:

    請輸入計算結果(填寫阿拉伯數字),如:三加四=7

地址:北京市昌平區西三旗建材城西路新龍大廈A座2010室

郵箱:cici.ding@insearch-tech.com

傳(chuan) 真:86-10-81706682

  • 微信客服

  • 微信公眾(zhong) 號

版權所有Copyright © 2025 kaiyun官网 All Right Reserved         sitemap.xml     技術支持: