懸浮顆粒穩定性分析儀

為(wei) 什麽(me) 我們(men) 更需要濕式比表麵積？

顆粒的濕式比表麵積對產(chan) 品性能有很多方麵的影響。例如，顏料的覆蓋能力，催化劑活性以及藥物的效力。在過去，我們(men) 通常使用氣體(ti) 吸附法，壓汞法對物體(ti) 比表麵積進行測量。但這些方法都隻適用於(yu) 幹粉顆粒。

然而，大多數產(chan) 品顆粒都是涉及存在於(yu) 液態分散體(ti) 係中，無論是在終狀態還是在生產(chan) 的某些階段。雖然幹粉法可以用於(yu) 測試顆粒幹粉態參數，但卻無法提供顆粒進入液相分散體(ti) 係後的性能參數。通過目前僅(jin) 有的比表麵測試手段如激光粒度估算比表麵，長時間氣體(ti) 吸附都無法測量出顆粒濕式比表麵。

我們(men) 研究發現，顆粒表麵所包裹的液相分子體(ti) 積不同，或是液相中自由液相分子數量不同都會(hui) 體(ti) 現在磁場變化時的相應。並且包裹在顆粒表麵的液相分子比處於(yu) 自由遊離態的液相分子的NMR弛豫時間短很多。

兩(liang) 種狀態的液相分子的弛豫時間差異能夠達到幾個(ge) 數量級。而分散係中顆粒的弛豫時間則是由包裹在顆粒表麵的液相分子的弛豫時間和自由遊離態的液相分子的弛豫時間的加權平均值。我們(men) 通過這種方法可以直接測量出液態分散係中顆粒的濕式比表麵積。