調節ph值會(hui) 改變顆粒周圍雙電層厚度原理硫酸鋁混凝作用機理主要有：壓縮雙電層機理和吸附-電中和機理兩(liang) 種,其各自的原理如下.壓縮雙電層機理：由膠體(ti) 粒子的雙電層結構可知,反離子的濃度在膠粒表麵處zui大,並沿著膠粒表麵向外的距離呈遞減分布,zui終與(yu) 溶液中離子濃度相等.當向溶液中投加電解質,使溶液中離子濃度增高,則擴散層的厚度減小.該過程的實質是加入的反離子與(yu) 擴散層原有反離子之間的靜電斥力把原有部分反離子擠壓到吸附層中,從(cong) 而使擴散層厚度減小.由於(yu) 擴散層厚度的減小,電位相應降低,因此...

手性拉曼光譜是現代光譜新技術手性拉曼光譜是對手性分子構型研究的現代光譜新技術。手性拉曼光譜技術被認為(wei) 將是繼X射線晶體(ti) 衍射和核磁共振技術之後，研究生物手性大分子的又一重大技術。由於(yu) 手性拉曼光譜可用於(yu) 水相和生命體(ti) 中手性分子的研究，能原位顯示生命大分子結構及其變化，將在手性催化和生命科學研究領域發揮重大作用。手性拉曼光譜的研究是手性拉曼研究工作的基礎上，開辟的又一新的研究領域。手性拉曼光譜成功用於(yu) 手性分子體(ti) 係的研究，顯示了手性拉曼光譜技術在手性催化、有機手性合成、生物研究等領域巨大...

固體(ti) 表麵電位可以通過方法測量孔隙率固體(ti) 表麵電位儀(yi) 固體(ti) 表麵電位包含DT-300的功能,能夠用於(yu) 幾乎所有類型的多相異構係統,,包括顆粒、沉積物和多孔材料固體(ti) 表麵電位包括高頻電導率探頭，可以通過方法測量孔隙率通過電聲電振法可以測量多孔材料的表麵zeta電位固體(ti) 表麵電位在用膠體(ti) 振動電流(CVI)方式測定原濃體(ti) 係的zeta電位時,輸入電導率值可計算雙電層厚度及粒子表麵電荷密度固體(ti) 表麵電位主要應用材料表麵改性材料表麵黏附、吸附、脫附等材料組成材料親(qin) 水性與(yu) 疏水性材料潔淨處理等表麵活性劑相互...

形貌分析儀(yi) 三維數據性質步驟分析一般的圖像法粒度分析儀(yi) 隻能測量顆粒的平麵信息即a、b方向數據；MORPHO3D不僅(jin) 可以測量顆粒a、b方向數據，而且可以測量顆粒的厚度即c方向數據（見圖1）。該設計突破性地采用了兩(liang) 部呈90度角的相機由樣品正上方和左側(ce) 采集數據的技術，以及歐奇奧皮帶輸送技術，實現了顆粒三維信息的真實獲取，再結合歐奇奧公司的驕子（Callisto）3D彩色分析軟件，可用於(yu) 分析非球形顆粒如小球、穀物、藥片、玉米、化肥、大米等的粒度及厚度；其彩色分析功能還可以呈現顆粒顏色，...

近日，我公司獲得“中關(guan) 村科技園區管理委員會(hui) ”頒發的“中關(guan) 村企業(ye) ”的榮譽，這意味著公司的經營發展又上了一個(ge) 更新的台階，我們(men) 將會(hui) 繼續努力創新，以的產(chan) 品和服務來回報社會(hui) 。

超聲粒度儀(yi) 可確保根據不同應用現場工藝點設計結果超聲粒度儀(yi) 產(chan) 品特點：超聲粒度儀(yi) 測量性高：礦漿中超聲衰減的變化是固體(ti) 顆粒共同作用的結果，超聲粒度儀(yi) 對超聲衰減采用直接測量方式，而非查表插值處理方法，超聲衰減分辨率可達0.1dB，加之消除礦漿中氣泡對超聲衰減的影響，粒度檢測精度更。多粒級、多流道應用：可同時分析多個(ge) 粒級的礦漿粒度分布，並提供濃度檢測，無需用戶額外的開支。另外采用大動態範圍信號處理技術可使本儀(yi) 表不僅(jin) 可提供多個(ge) 流道的礦漿粒度檢測，而且可以適用不同性質工藝礦漿性質，即本儀(yi) 表...

粒度粒形檢測儀(yi) 是篩分法的理想替代方案粒度粒形檢測儀(yi) 是篩分法的理想替代方案適合顆粒，如金剛石、煙草、鹽/糖、塑料、催化劑、研磨劑、碳製品、沙、煤炭、咖啡、耐火材料、食品、聚苯乙烯、玻璃、陶瓷、肥料、藥物、金屬粉末、標準品、水泥、礦石等的質量控製，可在線應用將圖像這一直觀的觀察測量方法與(yu) 統計學相結合的圖像法顆粒粒度粒形表征不僅(jin) 能夠得到個(ge) 別顆粒的直觀信息，還能夠得到樣品的粒徑和形貌的統計信息，從(cong) 而幫助使用者地表征樣品。粒度粒形檢測儀(yi) 原理：從(cong) 頻閃光源發出的頻閃光，經過光束擴束器，得到...

超聲粒度儀(yi) 統一的數據管理在一個(ge) 樣品池中可以同時測量粒度分布和zeta電位可以選擇附加各種探頭式測量傳(chuan) 感器,包括溫度、pH值、電導率、和流變性質測量，以及非水係統選項和軟件控製的自動滴定係統所有探頭均可同時操作統一的數據管理用於(yu) 水相、有機相（極性或非極性溶劑）懸浮液和乳液表征超寬粒徑測量範圍，5nm~1000μm原濃溶液測試、無需校正過Access數據庫進行數據管理