用於動力學監控的原位納米粒度測量技術

本文介紹了用於(yu) 原位納米粒度分析的遠程光纖探頭技術VASCO Kin^TM。由法國技術公司（CORDOUAN Technologies）開發的VASCO Kin^TM是一款功能的納米粒度分析儀(yi) ，它利用的單模光纖技術將DLS測量導入到你的過程監控。創新的光纖遠程探頭(下文介紹其原理)使VASCO Kin能夠非常簡單地結合到你現有的實驗裝置上(如合成反應器或小角X光散射SAXS係統)，給用戶提供了大的測量靈活性，以監測和改進其工藝過程的顆粒粒度隨時間或反應條件的變化。